廣州金程科學(xué)儀器公司供應(yīng)的安東帕Anton Paar納米粒度分析儀Litesizer DLS 系列粒度分析儀采用光散射技術(shù)結(jié)合巧妙簡易的軟件，可實(shí)現(xiàn)粒度分布、顆粒濃度、zeta 電位、分子量以及透光率和折光率的測試。顆粒激光粒度分析儀

Litesizer DLS 100 可測量多種樣品的粒度和透光率。它會(huì)讓您對顆粒體系有一個(gè)快速而準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí)，展示這些顆粒體系如何隨時(shí)間、pH 值、溫度和濃度變化，從而為您提供優(yōu)化工具。

Litesizer DLS 500 可實(shí)現(xiàn)上述所有測量，同時(shí)還能測量 zeta 電位、分子量和折光率。采用 Ω 形毛細(xì)管結(jié)合 cmPALS 專li技術(shù)（歐洲專li 2 735 870）能確保進(jìn)行快速、穩(wěn)定、可重復(fù)的 zeta 電位測量，即使樣品是渾濁的或者對電壓敏感的。

儀器特點(diǎn)：

Litesizer DLS 可為樣品選擇較理想的測量角度，以確保數(shù)據(jù)質(zhì)量

Litesizer DLS 500 有三個(gè)用于 DLS 測量的檢測角度（側(cè)散射、向后散射或向前散射），允許參數(shù)設(shè)置。儀器帶有自動(dòng)角度選擇功能，可以為您的樣品確定合適的角度。

Litesizer DLS 100 使用通用的后向散射角，這對于濁度樣品較理想，因?yàn)樗鼫p少了多個(gè)散射事件，實(shí)現(xiàn)高精度的數(shù)據(jù)。您可以對樣品進(jìn)行完整的分析，因?yàn)?Litesizer 系列能夠在一次測量中溶解多達(dá)三種不同的粒度等級(jí)。

zeta 電位測量降至 0.1 mg/mL，實(shí)現(xiàn)高靈敏度

利用 Litesizer DLS 500，您可以通過電泳光散射法執(zhí)行 zeta 電位測量。cmPALS 專li技術(shù)（歐洲專li 2 735 870）允許在樣品濃度低的情況下進(jìn)行高靈敏度測量，獲得有意義的結(jié)果，測量時(shí)間顯著縮短，樣品降解程度大程度降低。這對肽溶液特別有幫助。此外,du特的安東帕 Ω 型毛細(xì)管 zeta 電位的比色皿在測量位置創(chuàng)建一個(gè)完quan穩(wěn)定的電場,促使 zeta 電位測量具有高度可重復(fù)性。

用于樣品監(jiān)測的持續(xù)的透光率測量

持續(xù)測量的透射率可以給您提供樣品的即時(shí)反饋。它進(jìn)一步允許自動(dòng)優(yōu)化測量參數(shù)，如測量角度、焦點(diǎn)位置和持續(xù)時(shí)間。透光率也提供在一系列測量中有關(guān)沉積或聚集開始的數(shù)據(jù)。

一體機(jī)-測量折光率

樣品溶劑的折光率是 DLS 和 ELS 測量所需的輸入?yún)?shù)。 對于大多數(shù)粒度分析儀來說，這些指數(shù)必須由外部來源確定，Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 測量的精確波長和溫度下測量折光率（歐洲專li 3 023 770）。這確保了在所有試驗(yàn)條件下，獲得高精確度的粒徑和 zeta 電位值。Litesizer 500 確定的折光率的誤差在 ±0.5% 之內(nèi)，符合 ISO 22412:2017 規(guī)定的 DLS 所需折光率精度。

使用 Kalliope 軟件可以清楚地了解您的測量結(jié)果

Litesizer 系列的測量軟件，Kalliope, 提供直觀的單頁工作流.輸入?yún)?shù)、測量信號(hào)和結(jié)果都觸手可及。單頁工作流還允許您只需單擊三次就可以開始測量。 預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告和結(jié)構(gòu)化的結(jié)果概覽對測量結(jié)果提供快速訪問路徑。 您還可以通過分析功能、Excel 導(dǎo)出和定制化報(bào)表模板來更深入地查看數(shù)據(jù)。Kalliope 符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法規(guī)要求。在這里了解 Kalliope 的更多特性

技術(shù)特點(diǎn)：

持續(xù)的透光率測量

持續(xù)測量樣品的透光率，讓Litesizer DLS 系列可自動(dòng)優(yōu)化一些參數(shù)，比如聚焦位置、測量角度以及測量持續(xù)時(shí)間。

一個(gè)儀器 – 三個(gè)檢測角度

選擇背散射、側(cè)散射或前散射，或者讓 Litesizer DLS 500為樣品自動(dòng)選擇最佳角度。

使用 DLS 實(shí)現(xiàn)分辨率

多角度粒度分析 (MAPS) 可提高雙峰和三峰顆粒混合物的分辨率。

折光率

使用 Litesizer DLS 700 和500在精確的測量波長和溫度下來測定溶劑的折光率。這可確保在各種試驗(yàn)條件下，都能獲得最高精確度的粒度結(jié)果和 zeta 電位。

Omega 樣品池

可與 Litesizer DLS 700 和500 配套使用的 zeta 電位測量池是一個(gè)具有倒置的 ? 形毛細(xì)管的樣品池。這可以在測量通道內(nèi)促進(jìn)形成均勻電場，從而保證結(jié)果的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

ELS專li技術(shù)：cmPALS

Litesizer 700 和 500 采用新型專li（歐洲zhuan利 2 735 870） 技術(shù) cmPALS，讓 ELS 光學(xué)器件達(dá)到新水準(zhǔn)?？煽焖賹?shí)現(xiàn)zeta 電位的準(zhǔn)確測量。

光學(xué)試驗(yàn)臺(tái)

光學(xué)試驗(yàn)臺(tái)是Litesizer DLS 系列的強(qiáng)大核心。高靈敏度的測量光學(xué)器件即使是低光強(qiáng)信號(hào)也能精確檢測，堅(jiān)固的外殼降低了振動(dòng)帶來的影響，并確保測量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響。

技術(shù)參數(shù)：

安東帕Anton Paar納米粒度分析儀Litesizer DLS信息由廣州金程科學(xué)儀器有限公司為您提供。顆粒激光粒度分析儀